一般社団法人 研究産業・産業技術振興協会は、業種横断的な委員会活動や情報交換を通じて、研究産業及び産業技術の振興に貢献します。
過去の調達情報一覧



2017年 (平成29年)

【公募終了案件】
Wドットアレイ ラウンドロビン・テスト測定方法仕様
本仕様は当協会の指定する試料の測定に関し、本仕様を満たす測定を実施できる分析機関を公募するに際して適用するものです。 本測定実施を希望する機関は、期限までに当協会担当者に連絡をお願いします。 今回の公募はラウンドロビン・テストですので、複数の分析機関の応募をお願いするものです。

A.
希望納期
2017 年 1 月 31 日(火)

B.
分析に係る費用は上限額 70,000 円(消費税を含む)とします。

C.
応募期限
2017 年 1 月 10 日(火) 17:00 までに下記までに見積書とともに連絡をお願いします。
但し、参加予定枠を設定しておりますので、予定枠に達した時点で締め切りとします。



2016年 (平成28年)

【公募終了案件】
SEM像シャープネス評価用Wドットアレイ評価計測に関する仕様
本仕様は当協会の指定するSEM像シャープネス評価用Wドットアレイ試料の評価測定に関し、 本仕様を満たす測定を実施できる分析機関を公募するに際して適用するものです。実施を希望する機関は、期限までに当協会担当者に連絡をお願いします。

測定は以下に示す4項目あります。このページ以降にそれぞれの詳しい仕様を添付しています。

1.FIB-SEM
  1. ビア断面観察を実施しビアの深さ方向形状やボイドなどを明らかにします。
  2. SEMの広い視野を活用しビア間での構造のばらつきを観察します。
2.FIB-TEM
  1. TEMの高分解能を活かし,ビア断面の詳細な観察をします。
  2. SEMでは観察困難なTiNレイヤーや表面酸化層の構造や厚みを評価します。
3.AFM
  1. 電子顕微鏡で観察困難な試料表面構造評価を行います。CMP後におけるビア表面・基板表面の表面荒れを評価します。
4.SEM
  1. SEM観察では信号選択により画像のコントラストおよび像シャープネスが変化するため、本測定では加速電圧と検出器を変化させた時のSEM画像の変化を調べます。

A.
希望納期
2017 年 1 月 31 日(火)

B.
見積もり書提出期限
2016 年 12 月 26 日(月) 17:00 までに連絡をお願いします。


【公募終了案件】
SEM像シャープネス評価用Wドットアレイ試料 A調達
本仕様は当協会の指定するSEM像シャープネス評価用Wドットアレイ試料Aを調達するための公募に際して適用するものです。 納入を希望する機関は期限までに当協会担当者に連絡をお願いします。

A.
希望納期
2017 年 1 月 31 日(火)

B.
見積もり書提出期限
2016 年 12 月 15 日(水) 17:00 までに連絡をお願いします。


【公募終了案件】
SEM像シャープネス評価用Wドットアレイ試料 B調達
本仕様は当協会の指定するSEM像シャープネス評価用Wドットアレイ試料Bを調達するための公募に際して適用するものです。 納入を希望する機関は期限までに当協会担当者に連絡をお願いします。

A.
希望納期
2017 年 1 月 31 日(火)

B.
見積もり書提出期限
2016 年 12 月 15 日(水) 17:00 までに連絡をお願いします。


【公募終了案件】
SEM像シャープネス評価用Wドットアレイ試料 C調達
本仕様は当協会の指定するSEM像シャープネス評価用Wドットアレイ試料Cを調達するための公募に際して適用するものです。 納入を希望する機関は期限までに当協会担当者に連絡をお願いします。

A.
希望納期
2017 年 1 月 31 日(火)

B.
見積もり書提出期限
2016 年 12 月 15 日(水) 17:00 までに連絡をお願いします。


【公募終了案件】
SEM像シャープネス評価用Wドットアレイ試料 D調達
本仕様は当協会の指定するSEM像シャープネス評価用Wドットアレイ試料Dを調達するための公募に際して適用するものです。 納入を希望する機関は期限までに当協会担当者に連絡をお願いします。

A.
希望納期
2017 年 1 月 31 日(火)

B.
見積もり書提出期限
2016 年 12 月 15 日(水) 17:00 までに連絡をお願いします。


【公募終了案件】
TOF-SIMS分析用有機膜付きシリコン試料調達
本仕様は当協会の指定する分析用試料を納入できる機関を公募するに際して適用するものです。納入を希望する機関は期限までに当協会担当者に連絡をお願いします。

A.
希望納期
2017 年 2 月 28 日(火)

B.
応募期限
2016年 12 月 9 日(金) 17:00 までに連絡をお願いします。


【公募終了案件】
ARC有機薄膜試料の高分解能RBSによる有機薄膜の膜厚測定分析
本仕様は当協会の指定する試料の測定に関し、本仕様を満たす測定を実施できる分析機関を公募するに際して適用するものです。
本測定実施を希望する機関はA項に示す期限までに当協会担当者に連絡をお願いします。

A.
希望納期
2016 年 12 月 28 日(水)

B.
応募期限
2016年 11 月25 日(金) 17:00 までに見積書とともに連絡をお願いします。


【公募終了案件】
ARC有機薄膜試料のTOF-SIMS分析ラウンドロビン・テスト測定(下地金属薄膜あり)
本仕様は当協会の指定する試料の測定に関し、本仕様を満たす測定を実施できる分析機関を公募するに際して適用するものです。本測定実施を希望する機関はA項に示す期限までに当協会担当者に連絡をお願いします。
今回の公募はラウンドロビン・テストですので、複数の分析機関の応募をお願いするものです。

A.
希望納期
2016 年 12 月 28 日(水)

B.
応募期限
2016年 11 月25 日(金) 17:00 までに見積書とともに連絡をお願いします。
但し、参加予定枠を設定しておりますので、予定枠に達した時点で締め切りとします。


【公募終了案件】
ARC有機薄膜試料のTOF-SIMS分析ラウンドロビン・テスト測定(下地金属薄膜なし)
本仕様は当協会の指定する試料の測定に関し、本仕様を満たす測定を実施できる分析機関を公募するに際して適用するものです。本測定実施を希望する機関はA項に示す期限までに当協会担当者に連絡をお願いします。
今回の公募はラウンドロビン・テストですので、複数の分析機関の応募をお願いするものです。

A.
希望納期
2016 年 12 月 28 日(水)

B.
応募期限
2016年 11 月25 日(金) 17:00 までに見積書とともに連絡をお願いします。
但し、参加予定枠を設定しておりますので、予定枠に達した時点で締め切りとします。


【公募終了案件】
SEM像シャープネス評価用Wドットアレイ評価計測
当協会の指定するSEM像シャープネス評価用Wドットアレイ試料の評価測定に関し、 別添の仕様を満たす測定を実施できる分析機関を公募するものです。
実施を希望する機関は A.項に示す期限までに当協会担当者に連絡をお願いします。

A.
希望納期
2016年10月 7日(金)

B.
見積もり書提出期限
2016年8月5日(金)17:00



2015年 (平成27年)

【公募終了案件】
「Wドットアレイ計測ラウンドロビン・テスト」 外注先募集
公募開始:
H27年11月30日(月)
外注応募締切り:H27年12月8日(火)17:00

【公募終了案件】
「TOF-SIMS用有機膜付きシリコン基板」 納入先募集
公募開始:
H27年11月18日(水)
外注応募締切り:H27年11月24日(火)17:00

【公募終了案件】
「TOF-SIMS用有機膜/金属膜付きシリコン基板」 作成委託先募集
公募開始:
H27年11月18日(水)
外注応募締切り:H27年11月24日(火)17:00

【公募終了案件】
「H27年度 検査・分析業に関する実態調査」アンケート発送・集計作業外注先募集
公募開始:
H27年10月27日(火)
見積書提出締切り:10月30日(金)
(概要)
検査・分析業界の事業規模、事業形態などの基本データ把握を目的に、検査分析企業・団体に対しアンケート調査を行い、 最近の状況・意識等を把握し、課題抽出することを目的として「H27年度 検査・分析業に関する実態調査」を実施します。 実施にあたり、アンケートの発送・集計作業等を委託するものです。

【公募終了案件】
「H27年度 研究開発動向調査アンケート発送・集計作業」外注先募集
公募開始:
H27年10月1日(木)
見積書提出締切り:10月16日(金)
(概要)
イノベーション創出に向け、日本の研究開発費の約7割を占める企業の研究開発関連の実態を把握するため、 研究開発投資の多い企業に対してアンケート調査を行い、企業の研究開発関連の最近の状況・意識等を把握し、 課題抽出することを目的として「研究開発動向調査」を実施します。実施にあたり、アンケートの発送・集計作業等を委託するものです。 本公募にあたっては10月7日11時より当協会にて説明会を開催します。

【公募終了案件】
「SEM像シャープネス評価用Wドットアレイ評価計測」外注先募集
公募開始:
H27年9月30日(水)
外注応募締切り:H27年10月16日(金)17:00


2014年 (平成26年)

【公募終了案件】
「EELS マイクログリッドカーボン膜ラウンドロビン・テスト」外注先募集
公募開始:
H26年12月25日(木)
外注応募締切り:H27年1月9日(金)17:00

【公募終了案件】
「EELS エネルギー軸校正用内標準付きメッュラウンドロビン・テスト」外注先募集
公募開始:
H26年12月25日(木)
外注応募締切り:H27年1月9日(金)17:00

【公募終了案件】
「BNデルタ多層膜付き高ドープB基板の計測(6件)」外注先募集
公募開始:
H26年12月25日(木)
外注応募締切り:H27年1月9日(金)17:00

【公募終了案件】
「H26年度 研究開発動向調査アンケート発送・集計作業」外注先募集
公募開始:
H26年10月7日(火)
見積書提出締切り:10月17日(金)
(概要)
イノベーション創出に向け、日本の研究開発費の約7割を占める企業の研究開発関連の実態を把握するため、研究開発投資の多い企業に対してアンケート調査を行い、企業の研究開発関連の最近の状況・意識等を把握し、課題抽出することを目的として「研究開発動向調査」を実施します。実施にあたり、アンケートの発送・集計作業等を委託するものです。 本公募にあたっては10月10日11時より当協会にて説明会を開催します。


2013年 (平成25年)

【公募終了案件】
「ナノ分析試験(EELS)」外注先募集
公募開始:
H25年12月24日(火)
外注応募締切り:H26年1月7日(火)17:00

【公募終了案件】
「H25年度 研究開発動向調査アンケート発送・集計作業」外注先募集
公募開始:
H25年10月31日(木)
見積書提出締切り:11月11日(月)
(概要)
イノベーション創出に向け、日本の研究開発費の約7割を占める企業の研究開発関連の実態を把握するため、研究開発投資の多い企業に対してアンケート調査を行い、企業の研究開発関連の最近の状況・意識等を把握し、課題抽出することを目的として「研究開発動向調査」を実施します。実施にあたり、アンケートの発送・集計作業等を委託するものです。 本公募にあたっては11月6日15時より当協会にて説明会を開催します。

【公募終了案件】
「高ドープAs基板への極薄膜の影響評価計測委託事業 (両面研磨) に関する委託調査」外注先募集
公募開始:
H25年10月31日(木)
外注応募締切り:H25年11月6日(水)17:00

【公募終了案件】
「高ドープAs 基板への極薄膜の影響評価計測 (XRF) に関する委託調査」外注先募集
公募開始:
H25年10月29日(火)
外注応募締切り:H25年11月5日(火)17:00

【公募終了案件】
「極薄Asドープ試料のラウンドロビン分析 (SIMS) に関する委託調査」外注先募集
公募開始:
H25年10月29日(火)
外注応募締切り:H25年11月8日(金)17:00

【公募終了案件】
「検査・分析業に関する実態調査」アンケート発送・集計作業 外注先募集
公募開始:
H25年9月17日(火)
外注応募締切り:H25年9月24日(火)17:00

【公募終了案件】
「長寿社会エコシステムに関する委託調査」外注先募集
公募開始:
H25年7月16日(火)
外注応募締切り:H25年7月31日(水)17:00

【公募終了案件】
「高ドープAs 基板への極薄膜の影響評価計測 (HR-RBS)」外注先募集
公募開始:
H25年7月4日(木)
外注応募締切り:7月12日(金)17:00

【公募終了案件】
「高ドープAs 基板への極薄膜の影響評価計測 (SIMS)」外注先募集
公募開始:
H25年7月4日(木)
外注応募締切り:7月12日(金)17:00

【公募終了案件】
「高ドープAs 基板への極薄膜の影響評価計測 (TEM)」外注先募集
公募開始:
H25年7月4日(木)
外注応募締切り:7月12日(金)17:00

【公募終了案件】
「高ドープAs 基板への極薄膜の影響評価計測 (TOF-SIMS)」外注先募集
公募開始:
H25年7月4日(木)
外注応募締切り:7月12日(金)17:00

【公募終了案件】
「ナノ分析試験(EELS)」外注先募集
公募開始:
H25年1月17日(木)
外注応募締切り:1月29日(火)


2012年 (平成24年)

【公募終了案件】
「半導体基板のRBS、XRRによる測定」外注先募集
公募開始:
H24年12月10日(月)
外注応募締切り:12月20日(木)

【公募終了案件】
「デルタBN/a-Si膜付きAs高ドープSi基板」外注先募集
公募開始:
H24年12月11日(火)
外注応募締切り:12月18日(火)

【公募終了案件】
「高ドープAs基板への極薄膜の影響評価計測」外注先募集
公募開始:
H25年10月31日(木)
見積書提出締切り:10月10日(水)
(概要)
当協会の実施している研究開発マネジメントに関わる調査事業の一環として行う、企業における知財マネジメント(特許出願、権利化、権利行使等)の調査を委託するものです。

【公募終了案件】
「H24年度 知財マネジメントに関わる委託調査」外注先募集
公募開始:
H24年10月3日(水)
見積書提出締切り:10月10日(水)
(概要)
当協会の実施している研究開発マネジメントに関わる調査事業の一環として行う、企業における知財マネジメント(特許出願、権利化、権利行使等)の調査を委託するものです。

【公募終了案件】
「H24年度 研究開発動向調査アンケート発送・集計作業」外注先募集
公募開始:
H24年9月21日(金)
見積書提出締切り:10月10日(水)
(概要)
イノベーション創出に向け、日本の研究開発費の約7割を占める企業の研究開発関連の実態を把握するため、研究開発投資の多い企業に対してアンケート調査を行い、企業の研究開発関連の最近の状況・意識等を把握し、課題抽出することを目的として「研究開発動向調査」を実施します。実施にあたり、アンケートの発送・集計作業等を委託するものです。 本公募にあたっては9月27日15時より当協会にて説明会を開催します。

【公募終了案件】
「H24年度 検査・分析業の実態調査 アンケート発送・集計作業」外注先募集
公募開始:
H24年9月14日(金)
見積書提出締切り:H24年9月14日(金)
(概要)
本調査は、(社)研究産業・産業技術振興協会・検査・分析専門委員会が実施するものであり、検査・分析受託業務を行っている企業/機関にアンケート回答を依頼することにより、検査・分析業の市場規模、事業状況などの基本データの把握を行うものである。調査を実施するにあたり、委員会が保有する検査・分析企業/機関のリストに基づくアンケート用紙発送と回答集計作業の外注先を募集する。

【公募終了案件】
「高分解能RBSによるAsドーズ量の測定」外注先募集
納期:
平成24年1月17日
公募締切り:平成23年12月16日(金)17時
(概要)
本調査は、(社)研究産業・産業技術振興協会・検査・分析専門委員会が実施するものであり、検査・分析受託業務を行っている企業/機関にアンケート回答を依頼することにより、検査・分析業の市場規模、事業状況などの基本データの把握を行うものである。調査を実施するにあたり、委員会が保有する検査・分析企業/機関のリストに基づくアンケート用紙発送と回答集計作業の外注先を募集する。


2011年 (平成23年)

【公募終了案件】
「H23年度 研究開発動向調査 アンケート発送・集計作業」外注先募集
公募開始:
H23年9月26日(月)
見積書提出締切り:10月4日(火)
(概要)
本調査は、研究開発投資の多い企業に対してアンケート調査等を行い、企業の研究開発関連の最近の状況・意識等を把握し、課題抽出することを目的とするものであり、調査を実施するにあたり、アンケート用紙の発送・集計作業の外注先を募集する。

【公募終了案件】
「H23年度 検査・分析業の実態調査 アンケート発送・集計作業」外注先募集
公募開始:
H23年9月16日(金)
見積書提出締切り:9月26日(月)
(概要)
本調査は、(社)研究産業・産業技術振興協会・検査・分析専門委員会が実施するものであり、検査・分析受託業務を行っている企業/機関にアンケート回答を依頼することにより、検査・分析業の市場規模、事業状況などの基本データの把握を行うものである。調査を実施するにあたり、委員会が保有する検査・分析企業/機関のリストに基づくアンケート用紙発送と回答集計作業の外注先を募集する。